汽车车载电子零部件测试标准AEC-Q100测试项目详解

对汽车车载电子零部件测试标准以AEC-Q100-（001~012），AEC-Q101，AEC-Q200为最常见。其中AEC-Q100是AEC的第一个标准，于1994年6月首次发表，现经过了十多年的发展，AEC-Q100已经成为汽车电子系统的通用标准。对于车用芯片来说AEC-Q100也是最常见的应力测试(Stress Test)认证规范。

测试项目

AEC-Q100详细规定了一系列的测试，同时定义了应力测试驱动型认证的最低要求以及IC认证的参考测试条件。这些测试包括7个测试群组：

测试群组A(环境压力加速测试，Accelerated Environment Stress)

测试群组B(使用寿命模拟测试，Accelerated Lifetime Simulation)

测试群组C(封装组装整合测试，Package Assembly Integrity)

测试群组D(芯片晶圆可靠度测试，Die Fabrication Reliability)

测试群组E(电气特性确认测试，Electrical Verification)

测试群组F(瑕疵筛选监控测试，Defect Screening)

测试群组G(封装凹陷整合测试，Cavity Package Integrity)

此外，为了达到汽车电子产品对工作温度、耐久性与可靠度的高标准要求，组件供货商必须采用更先进的技术和更苛刻的测试程序来达成最佳化的设计方法。因此，AEC-Q100又分为不同的产品等级，其中第一级标准的工作温度范围在-40℃至125℃之间；最严格的第0级标准工作温度范围可达到-40℃至150℃ 。

AEC在AEC-Q100之后又陆续制定了针对离散组件的AEC-Q101和针对被动组件的AEC-Q200等规范，以及AEC-Q001/Q002/Q003/Q004等指导性原则（Guideline）。

以下供大家参考使用：

AEC - Q100 Rev - G base: 集成电路的应力测试标准（不包含测试方法）

AEC-Q100-001 邦线切应力测试

AEC-Q100-002 人体模式静电放电测试

AEC-Q100-003 机械模式静电放电测试

AEC-Q100-004 集成电路闩锁效应测试

AEC-Q100-005 可写可擦除的永久性记忆的耐久性、数据保持及工作寿命的测试

AEC-Q100-006 热电效应引起的寄生闸极漏电流测试

AEC-Q100-007 故障仿真和测试等级

AEC-Q100-008 早期寿命失效率（ELFR）

AEC-Q100-009 电分配的评估

AEC-Q100-010 锡球剪切测试

AEC-Q100-011 带电器件模式的静电放电测试

AEC-Q100-012 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述

AEC - Q101 Rev - C: 分立半导体元件的应力测试标准（包含测试方法）

AEC - Q101-001 - Rev-A: 人体模式静电放电测试

AEC - Q101-002 - Rev-A: 机械模式静电放电测试

AEC - Q101-003 - Rev-A: 邦线切应力测试

AEC - Q101-004 - Rev-: 同步性测试方法

AEC - Q101-005 - Rev-A: 带电器件模式的静电放电测试

AEC - Q101-006 - Rev-: 12V 系统灵敏功率设备的短路可靠性描述

AEC - Q200 Rev - C: 半导体被动元件的应力测试标准（包含测试方法）

AEC - Q200-001 - Rev-A: 阻燃性能测试

AEC - Q200-002 - Rev-A: 人体模式静电放电测试

AEC - Q200-003 - Rev-A: 断裂强度测试

AEC - Q200-004 - Rev-: 自恢复保险丝测量程序

AEC - Q200-005 - Rev-: PCB板弯曲/端子绑线应力测试

AEC - Q200-006 - Rev-: 端子应力（贴片元件）/切应力测试

AEC - Q200-007 - Rev-: 电压浪涌测试

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